သတင်း

Giovanni D'Amore သည် dielectric နှင့် သံလိုက်ပစ္စည်းများကို ခွဲခြားသတ်မှတ်ရန် impedance ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများနှင့် ပရော်ဖက်ရှင်နယ် ဆက်စပ်ပစ္စည်းများကို အသုံးပြုရန် ဆွေးနွေးခဲ့သည်။
မိုဘိုင်းလ်ဖုန်း မော်ဒယ် မျိုးဆက်များ သို့မဟုတ် တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်း ထုတ်လုပ်ရေး လုပ်ငန်းစဉ် node များမှ နည်းပညာဆိုင်ရာ တိုးတက်မှုကို ကျွန်ုပ်တို့ တွေးလေ့ ရှိကြပါသည်။ ၎င်းတို့သည် အသုံးဝင်သော အတိုကောက် ဖြစ်သော်လည်း မထင်မရှား တိုးတက်လာသော နည်းပညာများ (ဥပမာ- ပစ္စည်းများ သိပ္ပံပညာ နယ်ပယ်) တွင် ဖြစ်သည်။
CRT TV တစ်လုံးကို ခွဲထုတ်လိုက်သည် သို့မဟုတ် ပါဝါထောက်ပံ့မှု အဟောင်းကို ဖွင့်ထားသူတိုင်း သိကြလိမ့်မည်- ၂၁ ရာစု အီလက်ထရွန်နစ် ပစ္စည်းများကို ဖန်တီးရန်အတွက် သင်သည် 20 ရာစု အစိတ်အပိုင်းများကို အသုံးမပြုနိုင်ပါ။
ဥပမာအားဖြင့်၊ ပစ္စည်းသိပ္ပံနှင့် နာနိုနည်းပညာတွင် အရှိန်အဟုန်ဖြင့် တိုးတက်မှုများသည် သိပ်သည်းဆမြင့်မားသော၊ စွမ်းဆောင်ရည်မြင့် inductors နှင့် capacitors များကို တည်ဆောက်ရန်အတွက် လိုအပ်သော ဝိသေသလက္ခဏာများဖြင့် ပစ္စည်းအသစ်များကို ဖန်တီးခဲ့သည်။
ဤပစ္စည်းများကို အသုံးပြု၍ စက်ကိရိယာများ ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်စေရန်အတွက် လည်ပတ်မှုကြိမ်နှုန်းနှင့် အပူချိန်အကွာအဝေးအကွာအဝေးအလိုက် ခွင့်ပြုမိန့်နှင့် စိမ့်ဝင်နိုင်မှုကဲ့သို့သော လျှပ်စစ်နှင့် သံလိုက်ဂုဏ်သတ္တိများကို တိကျစွာ တိုင်းတာရန် လိုအပ်ပါသည်။
Dielectric ပစ္စည်းများသည် capacitors နှင့် insulators ကဲ့သို့သော အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများတွင် အဓိကအခန်းကဏ္ဍမှ ပါဝင်ပါသည်။ ပစ္စည်းတစ်ခု၏ dielectric constant ကို ၎င်း၏ဖွဲ့စည်းပုံနှင့်/သို့မဟုတ် microstructure၊ အထူးသဖြင့် ကြွေထည်များကို ထိန်းချုပ်ခြင်းဖြင့် ချိန်ညှိနိုင်ပါသည်။
အစိတ်အပိုင်းများ ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်ရေးစက်ဝန်းတွင် ပစ္စည်းအသစ်များ၏ လျှပ်စီးကြောင်း ဂုဏ်သတ္တိများကို တိုင်းတာရန် အလွန်အရေးကြီးပါသည်။
dielectric ပစ္စည်းများ၏လျှပ်စစ်ဂုဏ်သတ္တိများကိုအစစ်အမှန်နှင့်စိတ်ကူးယဉ်အစိတ်အပိုင်းများပါ ၀ င်သော၎င်းတို့၏ရှုပ်ထွေးသောခွင့်ပြုချက်ဖြင့်သွင်ပြင်လက္ခဏာရှိသည်။
ဒိုင်အီလက်ထရစ်ကိန်းသေ၏ အစစ်အမှန်အစိတ်အပိုင်း၊ ဒိုင်အီလက်ထရစ်ကိန်းသေဟုလည်း ခေါ်တွင်သည်၊ လျှပ်စစ်စက်ကွင်းတစ်ခုသို့ ရောက်သွားသည့်အခါ စွမ်းအင်သိုလှောင်နိုင်စွမ်းကို ကိုယ်စားပြုသည်။ ဒိုင်အီလက်ထရစ်ကိန်းသေများနည်းပါးသော ပစ္စည်းများနှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါက၊ ပိုမိုမြင့်မားသော dielectric ကိန်းသေများရှိသော ပစ္စည်းများသည် ယူနစ်ထုထည်တစ်ခုလျှင် စွမ်းအင်ပိုမိုသိုလှောင်နိုင်သည် ၎င်းတို့ကို သိပ်သည်းဆမြင့်သော capacitors များအတွက် အသုံးဝင်စေသည်။
သေးငယ်သော dielectric constants ပါရှိသော ပစ္စည်းများသည် signal transmission systems တွင် အသုံးဝင်သော insulator များအဖြစ် အသုံးပြုနိုင်ပြီး၊ အတိအကျအားဖြင့် ၎င်းတို့က စွမ်းအင်အမြောက်အမြားကို မသိမ်းဆည်းနိုင်သောကြောင့်၊ ၎င်းတို့ဖြင့် ကာထားသော ဝါယာကြိုးများမှတဆင့် signal ပြန့်ပွားမှုနှောင့်နှေးမှုကို လျော့နည်းစေပါသည်။
ရှုပ်ထွေးသော permittivity ၏ စိတ်ကူးဉာဏ်အစိတ်အပိုင်းသည် လျှပ်စစ်စက်ကွင်းရှိ ဒိုင်လျှပ်စစ်ပစ္စည်းမှ စွန့်ထုတ်သည့် စွမ်းအင်ကို ကိုယ်စားပြုသည်။ ၎င်းသည် ဤလျှပ်စစ်ပစ္စည်းအသစ်ဖြင့် ပြုလုပ်ထားသော capacitors ကဲ့သို့သော စက်ပစ္စည်းများတွင် စွမ်းအင်အလွန်အကျွံမဆုံးရှုံးစေရန် ဂရုတစိုက်စီမံခန့်ခွဲရန် လိုအပ်ပါသည်။
dielectric constant ကို တိုင်းတာသည့်နည်းလမ်း အမျိုးမျိုးရှိပါသည်။ Parallel plate method သည် electrodes နှစ်ခုကြားတွင် ပစ္စည်းကို test (MUT) ဖြင့် နေရာချပေးပါသည်။ ပုံ 1 တွင် ပြထားသည့် ညီမျှခြင်းအား ပစ္စည်း၏ impedance ကို တိုင်းတာရန်နှင့် ၎င်းအား ရှုပ်ထွေးသော permittivity အဖြစ်သို့ ပြောင်းလဲပေးပါသည်။ ပစ္စည်း၏အထူနှင့် electrode ၏ဧရိယာနှင့်အချင်းကိုရည်ညွှန်းသည်။
ဤနည်းလမ်းကို ကြိမ်နှုန်းနည်းပါးသော တိုင်းတာခြင်းအတွက် အဓိကအားဖြင့် အသုံးပြုပါသည်။ နိယာမသည် ရိုးရှင်းသော်လည်း အထူးသဖြင့် ဆုံးရှုံးမှုနည်းသောပစ္စည်းများအတွက် တိုင်းတာမှုအမှားများကြောင့် တိကျသောတိုင်းတာမှုမှာ ခက်ခဲပါသည်။
ရှုပ်ထွေးသော permittivity သည် အကြိမ်ရေအလိုက် ကွဲပြားသောကြောင့် ၎င်းကို လည်ပတ်မှုအကြိမ်ရေတွင် အကဲဖြတ်သင့်ပါသည်။ မြင့်မားသောကြိမ်နှုန်းများတွင် တိုင်းတာခြင်းစနစ်ကြောင့် ဖြစ်ပေါ်လာသော အမှားအယွင်းများ တိုးလာမည်ဖြစ်ပြီး မတိကျသောတိုင်းတာမှုများ ဖြစ်ပေါ်စေပါသည်။
dielectric material test fixture (ဥပမာ Keysight 16451B ကဲ့သို့) တွင် လျှပ်ကူးပစ္စည်း သုံးခုပါရှိသည်။ ၎င်းတို့ထဲမှ နှစ်ခုမှာ capacitor တစ်ခုဖြစ်ပြီး တတိယတစ်ခုသည် protective electrode ကို ပံ့ပိုးပေးပါသည်။ လျှပ်စစ်စက်ကွင်းနှစ်ခုကြားရှိ electrode နှစ်ခုကြားတွင် လျှပ်ကူးပစ္စည်းတစ်ခု တည်ဆောက်သောအခါတွင် အကာအကွယ် electrode လိုအပ်သောကြောင့်၊ လျှပ်စစ်စက်ကွင်းသည် ၎င်းတို့ကြားတွင် တပ်ဆင်ထားသည့် MUT မှတဆင့် စီးဆင်းသွားမည် (ပုံ 2 ကိုကြည့်ပါ)။
ဤအနားသတ်အကွက်၏တည်ရှိမှုသည် MUT ၏ dielectric ကိန်းသေအား မှားယွင်းစွာတိုင်းတာခြင်းဆီသို့ ဦးတည်သွားစေနိုင်သည်။ ကာကွယ်မှုလျှပ်ကူးပစ္စည်းသည် အစွန်းကွက်လပ်တစ်လျှောက်စီးဆင်းနေသောလက်ရှိကိုစုပ်ယူကာ တိုင်းတာမှုတိကျမှုကို တိုးတက်စေသည်။
ပစ္စည်းတစ်ခု၏ dielectric ဂုဏ်သတ္တိများကို တိုင်းတာလိုပါက၊ ပစ္စည်းနှင့် အခြားအရာများကိုသာ တိုင်းတာရန် အရေးကြီးပါသည်။ ထို့ကြောင့်၊ ပစ္စည်းနမူနာသည် ၎င်းနှင့် လေဝင်ပေါက်ကြားရှိ လေကွာဟချက်များကို ဖယ်ရှားပစ်ရန် အရေးကြီးပါသည်။ လျှပ်ကူးပစ္စည်း။
၎င်းကိုအောင်မြင်ရန်နည်းလမ်းနှစ်သွယ်ရှိပါသည်။ပထမမှာစမ်းသပ်မည့်ပစ္စည်း၏မျက်နှာပြင်တွင်ပါးလွှာသောဖလင်လျှပ်ကူးပစ္စည်းများကိုအသုံးပြုရန်ဖြစ်သည်။ဒုတိယမှာတည်ရှိနေခြင်းနှင့်မရှိခြင်းကိုတိုင်းတာသောလျှပ်ကူးပစ္စည်းကြားရှိစွမ်းရည်ကိုနှိုင်းယှဉ်ခြင်းဖြင့်ရှုပ်ထွေးသောခွင့်ပြုနိုင်စွမ်းကိုရရှိစေရန်ဖြစ်သည်။ ပစ္စည်းများ၏။
အစောင့်လျှပ်ကူးပစ္စည်းသည် နိမ့်သောကြိမ်နှုန်းများတွင် တိုင်းတာမှုတိကျမှုကို မြှင့်တင်ရန် ကူညီပေးသော်လည်း မြင့်မားသောကြိမ်နှုန်းများတွင် လျှပ်စစ်သံလိုက်စက်ကွင်းကို ဆိုးရွားစွာထိခိုက်စေနိုင်သည်။ အချို့သောစမ်းသပ်သူများသည် ရွေးချယ်နိုင်သော dielectric material များကို သေးငယ်သောလျှပ်ကူးပစ္စည်းကိရိယာများဖြင့် ပံ့ပိုးပေးကာ ဤတိုင်းတာခြင်းနည်းပညာ၏ အသုံးဝင်သောကြိမ်နှုန်းအကွာအဝေးကို တိုးချဲ့နိုင်သည်။ fringing capacitance ၏သက်ရောက်မှုများကိုဖယ်ရှားရန်ကူညီသည်။
တပ်ဆင်မှုများနှင့် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများကြောင့် ကြွင်းကျန်သောအမှားအယွင်းများကို အဖွင့်ပတ်လမ်း၊ ဝါယာရှော့နှင့် ဝန်အားလျော်ကြေးပေးခြင်းဖြင့် လျှော့ချနိုင်သည်။ အချို့သော impedance ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူသည် ကျယ်ပြန့်သောကြိမ်နှုန်းထက် တိကျသောတိုင်းတာမှုများပြုလုပ်ရန် ကူညီပေးသည့် ဤလျော်ကြေးပေးသည့်လုပ်ဆောင်ချက်ကို ထည့်သွင်းထားပါသည်။
လျှပ်စီးပစ္စည်းများ၏ ဂုဏ်သတ္တိများ အပူချိန်နှင့် မည်ကဲ့သို့ ပြောင်းလဲသွားသည်ကို အကဲဖြတ်ခြင်းတွင် အပူချိန်ထိန်းချုပ်ထားသော အခန်းများနှင့် အပူဒဏ်ခံနိုင်သော ကေဘယ်ကြိုးများကို အသုံးပြုရန် လိုအပ်ပါသည်။ အချို့သော ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသူများသည် အပူဆဲလ်နှင့် အပူဒဏ်ခံနိုင်သော ကေဘယ်ကြိုးများကို ထိန်းချုပ်ရန် ဆော့ဖ်ဝဲကို ပံ့ပိုးပေးပါသည်။
dielectric ပစ္စည်းများကဲ့သို့ပင်၊ ferrite ပစ္စည်းများသည် တဖြည်းဖြည်း တိုးတက်ကောင်းမွန်လာပြီး အီလက်ထရွန်နစ်ပစ္စည်းများတွင် inductance အစိတ်အပိုင်းများနှင့် သံလိုက်များအပြင် ထရန်စဖော်မာများ၊ သံလိုက်စက်ကွင်းစုပ်ယူမှုများနှင့် နှပ်စက်များအဖြစ် တွင်ကျယ်စွာ အသုံးပြုကြသည်။
ဤပစ္စည်းများ၏ အဓိကဝိသေသလက္ခဏာများမှာ အရေးကြီးသော လည်ပတ်မှုကြိမ်နှုန်းများတွင် ၎င်းတို့၏ စိမ့်ဝင်နိုင်မှုနှင့် ဆုံးရှုံးမှုများ ပါဝင်သည်။ သံလိုက်ပစ္စည်းတပ်ဆင်ထားသော impedance analyzer သည် ကျယ်ပြန့်သော ကြိမ်နှုန်းအကွာအဝေးအတွင်း တိကျပြီး ထပ်တလဲလဲတိုင်းတာမှုများကို ပေးစွမ်းနိုင်သည်။
dielectric ပစ္စည်းများကဲ့သို့၊ သံလိုက်ပစ္စည်းများ၏ စိမ့်ဝင်နိုင်စွမ်းသည် အစစ်အမှန်နှင့် စိတ်ကူးယဉ်အစိတ်အပိုင်းများတွင် ဖော်ပြထားသော ရှုပ်ထွေးသောဝိသေသလက္ခဏာဖြစ်သည်။ စစ်မှန်သောဝေါဟာရသည် ပစ္စည်း၏သံလိုက်စီးဆင်းနိုင်မှုကို ကိုယ်စားပြုပြီး စိတ်ကူးယဉ်အသုံးအနှုန်းသည် ပစ္စည်းအတွင်းရှိဆုံးရှုံးမှုကို ကိုယ်စားပြုပါသည်။ သံလိုက်စိမ့်ဝင်နိုင်မှုမြင့်မားသောပစ္စည်းများသည် သံလိုက်စနစ်၏ အရွယ်အစားနှင့် အလေးချိန်ကို လျှော့ချရန်အတွက် အသုံးပြုသည်။ သံလိုက်စိမ့်ဝင်နိုင်မှု၏ ဆုံးရှုံးမှုအစိတ်အပိုင်းကို ထရန်စဖော်မာကဲ့သို့သော အသုံးချပရိုဂရမ်များတွင် အမြင့်ဆုံးထိရောက်မှုရရှိရန် သို့မဟုတ် အကာအကွယ်များကဲ့သို့သော အသုံးချမှုများတွင် အမြင့်ဆုံးအထိ လျှော့ချနိုင်သည်။
ရှုပ်ထွေးသော permeability ကို ပစ္စည်းဖြင့်ဖွဲ့စည်းထားသော inductor ၏ impedance ဖြင့် ဆုံးဖြတ်ပါသည်။ ကိစ္စအများစုတွင်၊ ၎င်းသည် ကြိမ်နှုန်းနှင့် ကွဲပြားသောကြောင့် ၎င်းကို operating frequency တွင် သွင်ပြင်လက္ခဏာဖြစ်သင့်ပါသည်။ မြင့်မားသောကြိမ်နှုန်းများတွင် ကပ်ပါး impedance ကြောင့် တိကျသောတိုင်းတာရခက်ခဲပါသည်။ fixture.ဆုံးရှုံးမှုနည်းသောပစ္စည်းများအတွက်၊ အဆင့်တိုင်းတာခြင်း၏တိကျမှုသည် အများအားဖြင့်မလုံလောက်သော်လည်း၊ impedance ၏အဆင့်ထောင့်သည် အရေးကြီးပါသည်။
သံလိုက်စိမ့်ဝင်နိုင်မှုသည်လည်း အပူချိန်နှင့်အတူ ပြောင်းလဲတတ်သောကြောင့် တိုင်းတာမှုစနစ်သည် ကျယ်ပြန့်သော ကြိမ်နှုန်းအကွာအဝေးတွင် အပူချိန်လက္ခဏာများကို တိကျစွာ အကဲဖြတ်နိုင်ရပါမည်။
သံလိုက်ပစ္စည်းများ၏ impedance ကို တိုင်းတာခြင်းဖြင့် ရှုပ်ထွေးသော စိမ့်ဝင်နိုင်စွမ်းကို ရရှိနိုင်သည်။ ၎င်းကို ပစ္စည်း၏ပတ်ပတ်လည်တွင် ဝါယာကြိုးအချို့ပတ်ပြီး ဝါယာအဆုံးနှင့် ဆက်စပ်နေသည့် impedance ကို တိုင်းတာခြင်းဖြင့် လုပ်ဆောင်သည်။ ရလဒ်များသည် ဝါယာဒဏ်ရာနှင့် အပြန်အလှန်အကျိုးသက်ရောက်မှုပေါ်မူတည်၍ ကွဲပြားနိုင်သည်။ သံလိုက်စက်ကွင်း၏ပတ်ဝန်းကျင်နှင့်၎င်း၏ပတ်ဝန်းကျင်။
သံလိုက်ပစ္စည်းစမ်းသပ်ကိရိယာ (ပုံ 3 ကိုကြည့်ပါ) သည် MUT ၏ toroidal coil ကိုဝန်းရံထားသည့် single-turn inductor ကို ပံ့ပိုးပေးပါသည်။ single-turn inductance တွင် ယိုစိမ့်မှုအတက်အကျမရှိသောကြောင့် မီးဖိုရှိသံလိုက်စက်ကွင်းအား လျှပ်စစ်သံလိုက်သီအိုရီဖြင့် တွက်ချက်နိုင်ပါသည်။ .
impedance/material analyzer နှင့် တွဲဖက်အသုံးပြုသောအခါ၊ coaxial fixture နှင့် toroidal MUT ၏ရိုးရှင်းသောပုံသဏ္ဍာန်ကို တိကျစွာအကဲဖြတ်နိုင်ပြီး ကျယ်ပြန့်သောကြိမ်နှုန်းကို 1kHz မှ 1GHz အထိရရှိနိုင်ပါသည်။
တိုင်းတာမှုစနစ်ကြောင့် ဖြစ်ပေါ်လာသော အမှားအယွင်းကို တိုင်းတာခြင်းမပြုမီ ဖယ်ရှားပစ်နိုင်သည်။ impedance ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းဖြင့် ဖြစ်ပေါ်လာသော ချို့ယွင်းချက်ကို သုံးကြိမ်အမှားပြင်ဆင်ခြင်းဖြင့် ချိန်ညှိနိုင်သည်။ မြင့်မားသောကြိမ်နှုန်းများတွင်၊ ဆုံးရှုံးမှုနည်းသော ကာပတ်စီတာ ချိန်ညှိခြင်းသည် အဆင့်ထောင့်တိကျမှုကို မြှင့်တင်ပေးနိုင်သည်။
fixture သည် အခြားသော error အရင်းအမြစ်ကို ပေးစွမ်းနိုင်သော်လည်း ကျန်ရှိသော inductance သည် MUT မပါဘဲ fixture ကို တိုင်းတာခြင်းဖြင့် လျော်ကြေးပေးနိုင်ပါသည်။
dielectric တိုင်းတာခြင်းကဲ့သို့ပင်၊ သံလိုက်ပစ္စည်းများ၏ အပူချိန်လက္ခဏာများကို အကဲဖြတ်ရန်အတွက် အပူချိန်အခန်းနှင့် အပူခံကေဘယ်ကြိုးများ လိုအပ်ပါသည်။
ပိုမိုကောင်းမွန်သော မိုဘိုင်းလ်ဖုန်းများ၊ ပိုမိုအဆင့်မြင့်သော ယာဉ်မောင်းအကူအညီစနစ်များနှင့် မြန်ဆန်သော လက်ပ်တော့များသည် နည်းပညာအများအပြားတွင် စဉ်ဆက်မပြတ်တိုးတက်မှုအပေါ် မှီခိုနေပါသည်။ ကျွန်ုပ်တို့သည် semiconductor process node များ၏ တိုးတက်မှုကို တိုင်းတာနိုင်သော်လည်း အဆိုပါ လုပ်ငန်းစဉ်အသစ်များကို လုပ်ဆောင်နိုင်စေရန်အတွက် ပံ့ပိုးပေးသည့် နည်းပညာများစွာသည် အရှိန်အဟုန်ဖြင့် တိုးတက်လျက်ရှိပါသည်။ အသုံးပြုရန်။
နောက်ဆုံးပေါ်နည်းပညာနှင့် နာနိုနည်းပညာဆိုင်ရာ တိုးတက်မှုများသည် ယခင်ကထက် ပိုမိုကောင်းမွန်သော dielectric နှင့် သံလိုက်ဂုဏ်သတ္တိများရှိသော ပစ္စည်းများကို ထုတ်လုပ်နိုင်စေခဲ့သည်။ သို့သော်လည်း အဆိုပါတိုးတက်မှုများကို တိုင်းတာခြင်းသည် ရှုပ်ထွေးသောလုပ်ငန်းစဉ်ဖြစ်ပြီး အထူးသဖြင့် ပစ္စည်းများနှင့် ဆက်စပ်ပစ္စည်းများကြားတွင် အပြန်အလှန်အကျိုးသက်ရောက်မှုမလိုအပ်သောကြောင့်ဖြစ်သည်။ တပ်ဆင်ကြသည်။
ကောင်းမွန်စွာ တွေးခေါ်နိုင်သော တူရိယာများနှင့် ကိရိယာများသည် ဤပြဿနာများကို ကျော်လွှားနိုင်ပြီး ယုံကြည်စိတ်ချရသော၊ ထပ်တလဲလဲနိုင်သော၊ ထိရောက်သော dielectric နှင့် သံလိုက်ပစ္စည်းပိုင်ဆိုင်မှုဆိုင်ရာ တိုင်းတာမှုများကို ဤနယ်ပယ်များတွင် သီးခြားကျွမ်းကျင်မှုမရှိသော အသုံးပြုသူများထံ ယူဆောင်လာနိုင်ပါသည်။ ရလဒ်သည် တစ်လျှောက်လုံးတွင် အဆင့်မြင့်ပစ္စည်းများကို ပိုမိုမြန်ဆန်စွာ ဖြန့်ကျက်ထားသင့်ပါသည်။ အီလက်ထရွန်းနစ်ဂေဟစနစ်။
“Electronic Weekly” သည် ယနေ့ UK ရှိ အတောက်ပဆုံး လူငယ် အီလက်ထရွန်နစ် အင်ဂျင်နီယာများကို မိတ်ဆက်ပေးရန်အတွက် RS Grass Roots နှင့် ပူးပေါင်းခဲ့သည်။
ကျွန်ုပ်တို့၏သတင်းများ၊ ဘလော့ဂ်များနှင့် မှတ်ချက်များကို သင့်ဝင်စာပုံးသို့ တိုက်ရိုက်ပေးပို့ပါ။ e-weekly သတင်းလွှာအတွက် စာရင်းသွင်းပါ- စတိုင်၊ ဂက်ဂျက်ဂုရု၊ နှင့် နေ့စဉ်နှင့် အပတ်စဉ် စုစည်းမှု။
Electronic Weekly ၏ နှစ် 60 ပြည့် နှစ်ပတ်လည်နေ့ကို ဂုဏ်ပြုသည့် ကျွန်ုပ်တို့၏ အထူးဖြည့်စွက်စာကို ဖတ်ပြီး လုပ်ငန်း၏အနာဂတ်ကို စောင့်မျှော်ကြည့်ရှုပါ။
Electronic Weekly ၏ ပထမဆုံးအွန်လိုင်းစာစောင်ကို ဖတ်ပါ- စက်တင်ဘာ 7 ရက် 1960။ ကျွန်ုပ်တို့သည် ပထမဆုံးထုတ်ဝေမှုကို စကင်န်ဖတ်ပြီး သင်ခံစားနိုင်မည်ဖြစ်သည်။
Electronic Weekly ၏ နှစ် 60 ပြည့် နှစ်ပတ်လည်နေ့ကို ဂုဏ်ပြုသည့် ကျွန်ုပ်တို့၏ အထူးဖြည့်စွက်စာကို ဖတ်ပြီး လုပ်ငန်း၏အနာဂတ်ကို စောင့်မျှော်ကြည့်ရှုပါ။
Electronic Weekly ၏ ပထမဆုံးအွန်လိုင်းစာစောင်ကို ဖတ်ပါ- စက်တင်ဘာ 7 ရက် 1960။ ကျွန်ုပ်တို့သည် ပထမဆုံးထုတ်ဝေမှုကို စကင်န်ဖတ်ပြီး သင်ခံစားနိုင်မည်ဖြစ်သည်။
ဤပေါ့ဒ်ကာစ်ကို နားထောင်ပြီး Chetan Khona (စက်မှုလုပ်ငန်း၊ မျှော်မှန်းချက်၊ ကျန်းမာရေးစောင့်ရှောက်မှုနှင့် သိပ္ပံပညာ၊ Xilinx) မှ ဖောက်သည်များ၏လိုအပ်ချက်များကို Xilinx နှင့် တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးစက်လုပ်ငန်းမှ တုံ့ပြန်ပုံအကြောင်း ပြောကြားချက်ကို နားထောင်ပါ။
ဤဝဘ်ဆိုက်ကိုအသုံးပြုခြင်းဖြင့်၊ သင်သည် ကွတ်ကီးများအသုံးပြုခြင်းကို သဘောတူညီပါသည်။Electronics Weekly ကို Metropolis International Group Limited မှ ပိုင်ဆိုင်ပြီး၊ Metropolis Group ၏ အဖွဲ့ဝင်၊ကျွန်ုပ်တို့၏ ကိုယ်ရေးကိုယ်တာနှင့် ကွတ်ကီးမူဝါဒကို ဤနေရာတွင် ကြည့်ရှုနိုင်ပါသည်။